PEMERIKSAAN lan PAKET ZW SERIES WELDING DIODE
Cara tes lan aturan pamriksa
1. Inspeksi Batch by Batch (Pemeriksaan Grup A)
Saben batch produk kudu dipriksa miturut Tabel 1, lan kabeh item ing Tabel 1 ora ngrusak.
Tabel 1 Inspeksi Saben Batch
| Kelompok | pamriksanItem | Metode Inspeksi | Kriteria | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Penampilan | Inspeksi visual (ing kahanan cahya lan penglihatan normal) | Logo cetha, lapisan permukaan lan plating bebas saka peeling lan karusakan. | 1.5 |
| A2a | Karakteristik Listrik | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) ing JB/T 7624—1994 | Polaritas mbalikke:VFM> 10 USL IRRM> 100 USL | 0.65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) ing JB/T 7624—1994 | Complaint kanggo syarat | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) ing JB/T 7624—1994 | Complaint kanggo syarat | ||
| Cathetan: USL minangka nilai watesan maksimal. | ||||
2. Inspeksi berkala (Inspeksi Kelompok B lan Kelompok C)
Miturut Tabel 2, produk sing dirampungake ing produksi normal kudu dipriksa paling ora siji klompok B lan Grup C saben taun, lan barang pamriksa sing ditandhani (D) minangka tes sing ngrusak.Yen pamriksan awal ora nduweni kualifikasi, sampling tambahan bisa dipriksa maneh miturut Lampiran Tabel A.2, nanging mung sapisan.
Tabel 2 Pemeriksaan Berkala (Kelompok B)
| Kelompok | pamriksanItem | Metode Inspeksi | Kriteria | Sampling Plan | |
| n | Ac | ||||
| B5 | siklus suhu (D) ngiring dening sealing |
| Pengukuran sawise tes:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL ora bocor | 6 | 1 |
| CRRL | Sebutna sipat-sipat sing relevan saben klompok, yaiku VFM lan akuRRMnilai sadurunge lan sawise tes, lan kesimpulan tes. | ||||
3. Inspeksi identifikasi (inspeksi grup D)
Nalika prodhuk wis rampung lan dilebokake ing pambiji produksi, saliyane inspeksi grup A, B, C, tes klompok D uga kudu ditindakake miturut Tabel 3, lan item inspeksi sing ditandhani (D) minangka tes sing ngrusak.Produksi normal produk sing wis dirampungake kudu diuji paling ora siji klompok D saben telung taun.
Yen pamriksan awal gagal, sampling tambahan bisa dipriksa maneh miturut Lampiran Tabel A.2, nanging mung sapisan.
Tabel 3 Uji Identifikasi
| No | Kelompok | pamriksanItem | Metode Inspeksi | Kriteria | Sampling Plan | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Tes beban siklus termal | Wektu siklus: 5000 | Pengukuran sawise tes:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Kejut utawa geter | 100g: tahan 6ms, gelombang setengah sinus, rong arah 3 sumbu sing saling tegak lurus, kaping 3 ing saben arah, total 18 kali.20g: 100 ~ 2000Hz, 2 jam saben arah, total 6 jam. | Pengukuran sawise tes: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Sebutna data atribut saben klompok kanthi ringkes, yaiku VFM , IRRMlan akuDRMnilai sadurunge lan sawise tes, lan kesimpulan tes. | |||||
Marking lan Packaging
1. Tandha
1.1 Tandha ing produk kalebu
1.1.1 Nomer produk
1.1.2 Tandha identifikasi terminal
1.1.3 Jeneng perusahaan utawa merek dagang
1.1.4 Kode identifikasi lot inspeksi
1.2 Logo ing karton utawa instruksi ditempelake
1.2.1 Model produk lan nomer standar
1.2.2 Jeneng lan logo perusahaan
1.2.3 Pratandha tahan Kelembapan lan udan
1.3 Paket
Keperluan kemasan produk kudu tundhuk karo peraturan domestik utawa syarat pelanggan
1.4 Dokumen produk
Model produk, nomer standar implementasine, syarat kinerja listrik khusus, penampilan, lan liya-liyane kudu kasebut ing dokumen kasebut.
Ingdioda lasdiprodhuksi dening Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor digunakake digunakake ing welder resistance, medium lan frekuensi dhuwur mesin welding nganti 2000Hz utawa ndhuwur.Kanthi voltase puncak maju ultra-kurang, resistensi termal ultra-kurang, teknologi manufaktur negara, kemampuan substitusi sing apik lan kinerja sing stabil kanggo pangguna global, dioda las saka Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor minangka salah sawijining piranti sing paling dipercaya saka daya China. produk semikonduktor.